1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试，目的是测试自动生成的代码写入控制器后，湖北下线检测，功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要，但不做重视也会引起一些不良后果（如调度问题、CPU Load，堆栈溢出等）
2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试，测试控制器完整系统功能，一般会搭建控制器所在系统的测试台架，下线检测设备，使用电气元件模拟传感器（如温度）和执行器（如风扇负载）的电气特性，验证完整的系统功能。
在整车开发过程中，主机厂对零部件从模块到整车进行一系列的测试。性能试验包括材料试验、模块性能试验、子系统性能试验、整车性能试验。以安全气囊为例，作为安全检查，会有很多轮的验证。气囊里边涉及huo药，如果验证不充分，整车下线检测，会对乘客造成伤害。造成大规模召回的高田安全气囊事件就是典型的验证不充分的结果。模块试验分为DV试验和PV试验，分别为设计验证和生产验证。
阶次谱分析zui常用的方法是阶次谱分析。该分析函数将信号从角度域信号转到阶次域。结果可以是平均阶次谱或阶次切片（相关信号与时间或转速的关系）。在定义的周期或测试工况中计算平均阶次谱。它表示每个阶次的平均水平。平均阶次谱非常适合稳态工况，在整个测试中发现产品问题。角度域信号分析采用基于角度同步重采样信号的处理方法对传感器信号进行分析。这些分析功能的目的是将来自被测设备的信号分量与来自测试台环境的其他信号分量分开。
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