1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试，目的是测试自动生成的代码写入控制器后，功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要，但不做重视也会引起一些不良后果（如调度问题、CPU Load，堆栈溢出等）
2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试，测试控制器完整系统功能，一般会搭建控制器所在系统的测试台架，汽车状态监测，使用电气元件模拟传感器（如温度）和执行器（如风扇负载）的电气特性，验证完整的系统功能。
在产品设计的初期，就会对每个零部件提出设计要求，这些要求可能是从法规或者企业标准中来的，可能是从顾客实际使用来的，比如仪表板的表面刚度；也可能是从之前项目的经验教训或者DFMEA/DFSS中得到的。这些要求汇总到一起就形成子系统技术规范或者零件技术规范，这个文件是对零件/子系统的技术要求，是零件开发的指导性文件。
模块试验分为DV试验和PV试验，分别为设计验证和生产验证。DV是验证零件设计是否满足要求，PV是验证零件供应商的生产是否满足设计要求，以及产线质量的稳定性。DV包括基本性能，高低温情况下，Margen发生器的气囊展开的到位时间。气袋的压力是否符合整车安全设定的目标，确保系统试验中假人的伤害值小。发生器压力测试等。针对成熟设计，环境耐久可以跟PV一起验证。
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